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    159 records


    Doctor's Theses (authored and supervised)


    159. X. Klemenschits:
    "Emulation and Simulation of Microelectronic Fabrication Processes";
    Reviewer: L. Filipovic, A. Erdmann, H. Pottmann; Institut für Mikroelektronik, 2022, oral examination: 08.04.2022. BibTeX

    158. M. Quell:
    "Parallel Velocity Extension and Load-Balanced Re-Distancing on Hierarchical Grids for High Performance Process TCAD";
    Reviewer: J. Weinbub, E. Gröller, M. Sussman; Institut für Mikroelektronik, 2022, oral examination: 13.01.2022 doi:10.34726/hss.2022.97084. BibTeX

    157. B. Ruch:
    "Hot-Carrier Degradation in Planar and Trench Si-MOSFETs";
    Reviewer: T. Grasser, C. Jungemann, P. Hadley; Institut für Mikroelektronik, 2021, oral examination: 15.03.2021. BibTeX

    156. A. Toifl:
    "Numerical Methods for Three-Dimensional Selective Epitaxy and Anisotropic Wet Etching Simulations";
    Reviewer: J. Weinbub, U. Schmid, L.-T. Cheng; Institut für Mikroelektronik, 2021, oral examination: 19.08.2021 doi:10.34726/hss.2021.91744. BibTeX

    155. T. Knobloch:
    "On the Electrical Stability of 2D Material-Based Field-Effect Transistors";
    Reviewer: T. Grasser, P. Hurley, G. Düsberg; Institut für Mikroelektronik, 2021, oral examination: 22.12.2021. BibTeX

    154. P. Sharma:
    "Predictive and Efficient Modeling of Hot Carrier Degradation with Drift-Diffusion Based Carrier Transport Models";
    Reviewer: T. Grasser, S. Reggiani, A. Bravaix; Institut für Mikroelektronik, 2021, oral examination: 26.02.2021. BibTeX

    153. B. Stampfer:
    "Advanced Electrical Characterization of Charge Trapping in MOS Transistors";
    Reviewer: T. Grasser, M. Nafria Maqueda, F. M. Puglisi; Institut für Mikroelektronik, 2020, oral examination: 04.12.2020 doi:10.34726/hss.2020.86423. BibTeX

    152. J. Berens:
    "Carrier Mobility and Reliability of 4H-SiC Trench MOSFETs";
    Reviewer: T. Grasser, J. Cooper, P. Pichler; Institut für Mikroelektronik, 2020, oral examination: 22.12.2020 doi:10.34726/hss.2021.86487. BibTeX

    151. L. Gnam:
    "High Performance Mesh Adaptation for Technology Computer-Aided Design";
    Reviewer: J. Weinbub, J. Schöberl, N. Hitschfeld Kahler; Institut für Mikroelektronik, 2020, oral examination: 24.03.2020 doi:10.34726/hss.2020.76784. BibTeX

    150. K. Waschneck:
    "Modeling Bias Temperature Instability in Si and SiC MOSFETs using Activation Energy Maps";
    Reviewer: T. Grasser, J. Schmitz, S. Reggiani; Institut für Mikroelektronik, 2020, oral examination: 07.12.2020 doi:10.34726/hss.2020.84645. BibTeX

    149. O. Baumgartner:
    "Numerical Modeling of Multilayer Semiconductor Devices";
    Reviewer: H. Kosina, W. Weber, C. Sampedro; Institut für Mikroelektronik, 2020, oral examination: 05.03.2020. BibTeX

    148. M. Jech:
    "The Physics of Non-Equilibrium Reliability Phenomena";
    Reviewer: T. Grasser, M. Luisier, A. Bravaix; Institut für Mikroelektronik, 2020, oral examination: 19.11.2020 doi:10.34726/hss.2020.85163. BibTeX

    147. M. Kampl:
    "Investigating Hot-Carrier Effects using the Backward Monte Carlo Method";
    Reviewer: H. Kosina, A. Garcia Loureiro, G. Hobler; Institut für Mikroelektronik, 2019, oral examination: 05.04.2019 doi:10.34726/hss.2019.65003. BibTeX

    146. C Koller:
    "The Role of Carbon in Creating Insulating Behavior in GaN-on-Si Buffers: A Physical Model";
    Reviewer: D. Pogany, T. Grasser, T. Uren; Institut für Festkörperelektronik, 2019, oral examination: 22.01.2019 doi:10.34726/hss.2018.44481. BibTeX

    145. G. Rescher:
    "Behavior of SiC-MOSFETs under Temperature and Voltage Stress";
    Reviewer: T. Grasser, P. Hadley, J. Cooper; Institut für Mikroelektronik, 2018, oral examination: 13.11.2018 doi:10.34726/hss.2018.60783. BibTeX

    144. A. Grill:
    "Charge Trapping and Single-Defect Extraction in Gallium-Nitride Based MIS-HEMTs";
    Reviewer: T. Grasser, G. Meneghesso, D. Pogany; Institut für Mikroelektronik, 2018, oral examination: 22.10.2018 doi:10.34726/hss.2018.60228. BibTeX

    143. P. Manstetten:
    "Efficient Flux Calculations for Topography Simulation";
    Reviewer: S. Selberherr, J. Weinbub, M. Wimmer, H. Köstler; Institut für Mikroelektronik, 2018, oral examination: 28.06.2018 doi:10.34726/hss.2018.57263. BibTeX

    142. G. Rzepa:
    "Efficient Physical Modeling of Bias Temperature Instability";
    Reviewer: T. Grasser, L. Larcher, F. Crupi; Institut für Mikroelektronik, 2018, oral examination: 27.06.2018 doi:10.34726/hss.2018.57326. BibTeX

    141. B. Ullmann:
    "Mixed Negative Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress";
    Reviewer: T. Grasser, J. Schmitz, S. Reggiani; Institut für Mikroelektronik, 2018, oral examination: 28.06.2018 doi:10.34726/hss.2018.57328. BibTeX

    140. G.A. Rott:
    "Negative Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Degradation of 130 nm Technology Transistors including Recovery Effects";
    Reviewer: T. Grasser, J. Schmitz, S. Reggiani; Institut für Mikroelektronik, 2018, oral examination: 28.06.2018 doi:10.34726/hss.2018.57329. BibTeX

    139. V. Simonka:
    "Thermal Oxidation and Dopant Activation of Silicon Carbide";
    Reviewer: S. Selberherr, J. Weinbub, Y. Hijikata, U. Schmid; Institut für Mikroelektronik, 2018, oral examination: 05.11.2018 doi:10.34726/hss.2018.60302. BibTeX

    138. Y. Wimmer:
    "Hydrogen Related Defects in Amorphous SiO2 and the Negative Bias Temperature Instability";
    Reviewer: T. Grasser, M. Watkins, P. Mohn; Institut für Mikroelektronik, 2017, oral examination: 27.11.2017 doi:10.34726/hss.2017.51306. BibTeX

    137. R. Stradiotto:
    "Characterization of Electrically Active Defects at III-N/Dielectric Interfaces";
    Reviewer: T. Grasser, G. Meneghesso; Institut für Mikroelektronik, 2016, oral examination: 16.12.2016 doi:10.34726/hss.2016.41581. BibTeX

    136. M. Rovitto:
    "Electromigration Reliability Issue in Interconnects for Three-Dimensional Integration Technologies";
    Reviewer: H. Ceric, K. Weide-Zaage; Institut für Mikroelektronik, 2016, oral examination: 13.12.2016. BibTeX

    135. W. H. Zisser:
    "Electromigration in Interconnect Structures";
    Reviewer: S. Selberherr, M. Kaltenbacher; Institut für Mikroelektronik, 2016, oral examination: 21.06.2016 doi:10.34726/hss.2016.37905. BibTeX

    134. M. Waltl:
    "Experimental Characterization of Bias Temperature Instabilities in Modern Transistor Technologies";
    Reviewer: T. Grasser, D. Schmitt-Landsiedel; Institut für Mikroelektronik, 2016, oral examination: 09.09.2016 doi:10.34726/hss.2016.38201. BibTeX

    133. S. Papaleo:
    "Mechanical Reliability of Open Through Silicon Via Structures for Integrated Circuits";
    Reviewer: H. Ceric, O. Thomas; Institut für Mikroelektronik, 2016, oral examination: 19.12.2016. BibTeX

    132. J. Ghosh:
    "Modeling Spin-Dependent Transport in Silicon";
    Reviewer: V. Sverdlov, M. Bescond; Institut für Mikroelektronik, 2016, oral examination: 03.03.2016. BibTeX

    131. Z. Stanojevic:
    "Physical Mobility Modeling for TCAD Device Simulation";
    Reviewer: H. Kosina, F. Gamiz; Institut für Mikroelektronik, 2016, oral examination: 26.09.2016. BibTeX

    130. F. Rudolf:
    "Symmetry- and Similarity-Aware Volumetric Meshing";
    Reviewer: S. Selberherr, J. Weinbub, H. Pottmann; Institut für Mikroelektronik, 2016, oral examination: 10.11.2016 doi:10.34726/hss.2016.40647. BibTeX

    129. P. Ellinghaus:
    "Two-Dimensional Wigner Monte Carlo Simulation for Time-Resolved Quantum Transport with Scattering";
    Reviewer: S. Selberherr, I. Dimov; Institut für Mikroelektronik, 2016, oral examination: 25.02.2016 doi:10.34726/hss.2016.35764. BibTeX

    128. Yu. Illarionov:
    "Characterization and Modeling of Charged Defects in Silicon and 2D Field-Effect Transistors";
    Reviewer: T. Grasser, L. Larcher; Institut für Mikroelektronik, 2015, oral examination: 18.12.2015 doi:10.34726/hss.2016.34580. BibTeX

    127. R. Coppeta:
    "Dislocation Modeling in III-Nitrides";
    Reviewer: T. Grasser, A. Köck; Institut für Mikroelektronik, 2015, oral examination: 15.06.2016 doi:10.34726/hss.2015.30571. BibTeX

    126. M. Moradinasab:
    "Optical Properties of Semiconductor Nanostructures";
    Reviewer: H. Kosina, T. Fromherz; Institut für Mikroelektronik, 2015, oral examination: 24.04.2015 doi:10.34726/hss.2015.29704. BibTeX

    125. Yu. Illarionov:
    "Tunnel Carrier Transport and Related Physical Phenomena in Gold - Calcium Fluoride - Silicon (111) Structures";
    Reviewer: M. I. Vexler, A. Baraban, L. Goray; Ioffe Institute, 2015, oral examination: 22.01.2015. BibTeX

    124. A. P. Singulani:
    "Advanced Methods for Mechanical Analysis and Simulation of Through Silicon Vias";
    Reviewer: S. Selberherr, O. Thomas; Institut für Mikroelektronik, 2014, oral examination: 07.07.2014 doi:10.34726/hss.2014.24806. BibTeX

    123. M. Bina:
    "Charge Transport Models for Reliability Engineering of Semiconductor Devices";
    Reviewer: T. Grasser, C. Jungemann; Institut für Mikroelektronik, 2014, oral examination: 25.03.2014 doi:10.34726/hss.2014.24463. BibTeX

    122. H. Mahmoudi:
    "Devices and Circuits for Stateful Logic and Memristive Sensing Applications";
    Reviewer: V. Sverdlov, B. Meinerzhagen; Institut für Mikroelektronik, 2014, oral examination: 28.04.2014 doi:10.34726/hss.2014.24465. BibTeX

    121. J. Weinbub:
    "Frameworks for Micro- and Nanoelectronics Device Simulation";
    Reviewer: S. Selberherr, A. Asenov; Institut für Mikroelektronik, 2014, oral examination: 17.02.2014 doi:10.34726/hss.2014.23675. BibTeX

    120. D. Osintsev:
    "Modeling Spintronic Effects in Silicon";
    Reviewer: V. Sverdlov, D. Süss; Institut für Mikroelektronik, 2014, oral examination: 28.05.2014 doi:10.34726/hss.2014.24842. BibTeX

    119. A. Makarov:
    "Modeling of Emerging Resistive Switching Based Memory Cells";
    Reviewer: V. Sverdlov, S. Cristoloveanu; Institut für Mikroelektronik, 2014, oral examination: 18.03.2014 doi:10.34726/hss.2014.23875. BibTeX

    118. F. Schanovsky:
    "Atomistic Modeling in the Context of the Bias Temperature Instability";
    Reviewer: T. Grasser, A. Schenk; Institut für Mikroelektronik, 2013, oral examination: 19.03.2013 doi:10.34726/hss.2013.28781. BibTeX

    117. I. Starkov:
    "Comprehensive Physical Modeling of Hot-Carrier Induced Degradation";
    Reviewer: T. Grasser, M. Gröschl; Institut für Mikroelektronik, 2013, oral examination: 14.01.2013. BibTeX

    116. G. Pobegen:
    "Degradation of Electrical Parameters of Power Semiconductor Devices - Process Influences and Modeling";
    Reviewer: T. Grasser, P. Hadley; Institut für Mikroelektronik, 2013, oral examination: 05.12.2013 doi:10.34726/hss.2013.11338322. BibTeX

    115. Rui Huang:
    "Stress and Microstructural Evolution of Electroplated Copper Films";
    Reviewer: T. Grasser, G. Dehm; Institut für Mikroelektronik, 2013, oral examination: 09.01.2013. BibTeX

    114. H. Karamitaheri:
    "Thermal and Thermoelectric Properties of Nanostructures";
    Reviewer: H. Kosina, E. Bauer; Institut für Mikroelektronik, 2013, oral examination: 18.07.2013 doi:10.34726/hss.2013.29976. BibTeX

    113. O. Triebl:
    "Reliability Issues in High-Voltage Semiconductor Devices";
    Reviewer: T. Grasser, M. Gröschl; Institut für Mikroelektronik, 2012, oral examination: 24.10.2012 doi:10.34726/hss.2012.27576. BibTeX

    112. L. Filipovic:
    "Topography Simulation of Novel Processing Techniques";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Vasileska; Institut für Mikroelektronik, 2012, oral examination: 17.12.2012. BibTeX

    111. Ph. Hehenberger:
    "Advanced Characterization of the Bias Temperature Instability";
    Reviewer: T. Grasser, M. Gröschl; Institut für Mikroelektronik, 2011, oral examination: 14.12.2011 doi:10.34726/hss.2011.24894. BibTeX

    110. K. Rupp:
    "Deterministic Numerical Solution of the Boltzmann Transport Equation";
    Reviewer: T. Grasser, C. Jungemann; Institut für Mikroelektronik, 2011, oral examination: 19.12.2011 doi:10.34726/hss.2011.24957. BibTeX

    109. W. Gös:
    "Hole Trapping and the Negative Bias Temperature Instability";
    Reviewer: T. Grasser, D. Süss; Institut für Mikroelektronik, 2011, oral examination: 22.12.2012 doi:10.34726/hss.2011.25057. BibTeX

    108. G. Milovanovic:
    "Numerical Modeling of Quantum Cascade Lasers";
    Reviewer: H. Kosina, D. Süss; Institut für Mikroelektronik, 2011, oral examination: 30.03.2011 doi:10.34726/hss.2011.22142. BibTeX

    107. P. Schwaha:
    "Beyond Atavistic Structures in Scientific Computing";
    Reviewer: S. Selberherr, I. Dimov; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 22.12.2010 doi:10.34726/hss.2010.21210. BibTeX

    106. R. Orio:
    "Electromigration Modeling and Simulation";
    Reviewer: S. Selberherr, J. W. Swart; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 04.06.2010. BibTeX

    105. T. Windbacher:
    "Engineering Gate Stacks for Field-Effect Transistors";
    Reviewer: S. Selberherr, J. Summhammer; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 25.06.2010. BibTeX

    104. O. Ertl:
    "Numerical Methods for Topography Simulation";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Süss; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 07.05.2010 doi:10.34726/hss.2010.001. BibTeX

    103. T. Aichinger:
    "On the Role of Hydrogen in Silicon Device Degradation and Metalization Processing";
    Reviewer: T. Grasser, H. Hutter; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 01.09.2010 doi:10.34726/hss.2010.20283. BibTeX

    102. S. Vitanov:
    "Simulation of High Electron Mobility Transistors";
    Reviewer: S. Selberherr, R. Quay; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 20.12.2010 doi:10.34726/hss.2010.21514. BibTeX

    101. M. Vasicek:
    "Advanced Macroscopic Transport Models";
    Reviewer: T. Grasser, J. Summhammer; Institut für Mikroelektronik, 2009, oral examination: 12.10.2009 doi:10.34726/hss.2009.17390. BibTeX

    100. G. Karlowatz:
    "Advanced Monte Carlo Simulation for Semiconductor Devices";
    Reviewer: H. Kosina, E. Benes; Institut für Mikroelektronik, 2009, oral examination: 24.06.2009 doi:10.34726/hss.2009.16312. BibTeX

    99. C. Poschalko:
    "The Simulation of Emission from Printed Circuit Boards under a Metallic Cover";
    Reviewer: S. Selberherr, G. Brasseur; Institut für Mikroelektronik, 2009, oral examination: 20.11.2009 doi:10.34726/hss.2009.17297. BibTeX

    98. L. Li:
    "Charge Transport in Organic Semiconductor Materials and Devices";
    Reviewer: H. Kosina, D. Süss; Institut für Mikroelektronik, 2008, oral examination: 08.02.2008 doi:10.34726/hss.2007.06698444. BibTeX

    97. A. Nentchev:
    "Numerical Analysis and Simulation in Microelectronics by Vector Finite Elements";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2008, oral examination: 31.01.2008 doi:10.34726/hss.2008.10738. BibTeX

    96. M. Spevak:
    "On the Specification and the Assembly of Discretized Differential Equations";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Praetorius; Institut für Mikroelektronik, 2008, oral examination: 03.03.2008 doi:10.34726/hss.2008.10851. BibTeX

    95. E. Ungersböck:
    "Advanced Modeling of Strained CMOS Technology";
    Reviewer: H. Kosina, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 23.04.2007 doi:10.34726/hss.2007.8326. BibTeX

    94. J. Schweda:
    "Analysis of Shift Mechanisms in BiCMOS Hall Devices with Scope of a Precise SPICE Simulation Model";
    Reviewer: K. Riedling, S. Selberherr; Institut für Sensor- und Aktuatorsysteme, 2007, oral examination: 16.04.2007. BibTeX

    93. S. Dhar:
    "Analytical Mobility Models for Strained Silicon-Based Devices";
    Reviewer: H. Kosina, G. Magerl; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 30.08.2007 doi:10.34726/hss.2007.9404. BibTeX

    92. R. Heinzl:
    "Concepts for Scientific Computing";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Purgathofer; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 18.09.2007 doi:10.34726/hss.2007.9483. BibTeX

    91. H. Kim:
    "Design, Simulation and Fabrication of Micro/Nano Functional Structures Using ION Beams";
    Reviewer: G. Hobler, H. Kosina; Institut für Festkörperelektronik, 2007, oral examination: 20.04.2007. BibTeX

    90. W. Wessner:
    "Mesh Refinement Techniques for TCAD Tools";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Purgathofer; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 09.01.2007 doi:10.34726/hss.2006.7320. BibTeX

    89. R. Wittmann:
    "Miniaturization Problems in CMOS Technology: Investigation of Doping Profiles and Reliability";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 27.02.2007 doi:10.34726/hss.2007.7645. BibTeX

    88. R. Entner:
    "Modeling and Simulation of Negative Bias Temperature Instability";
    Reviewer: T. Grasser, G. Magerl; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 13.08.2007 doi:10.34726/hss.2007.10123. BibTeX

    87. Ch. Hollauer:
    "Modelling of Thermal Oxidation and Stress Effects";
    Reviewer: S. Selberherr, M. Vellekoop; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 18.04.2007. BibTeX

    86. M. Pourfath:
    "Numeric Study of Quantum Transport in Carbon Nanotube-Based Transistors";
    Reviewer: H. Kosina, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 03.07.2007. BibTeX

    85. S. Holzer:
    "Optimization for Enhanced Thermal Technology CAD Purposes";
    Reviewer: T. Grasser, H. Schichl; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 28.06.2007 doi:10.34726/hss.2007.8993. BibTeX

    84. M. Wagner:
    "Simulation of Thermoelectric Devices";
    Reviewer: T. Grasser, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 18.12.2007 doi:10.34726/hss.2007.06623909. BibTeX

    83. R. Minixhofer:
    "Integration Technology Simulation into the Semiconductor Manufacturing Environment";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Pribyl; Institut für Mikroelektronik, 2006, oral examination: 31.03.2006 doi:10.34726/hss.2006.5439. BibTeX

    82. A. Sheikholeslami:
    "Topography Simulation of Deposition and Etching Processes";
    Reviewer: S. Selberherr, K. Riedling; Institut für Mikroelektronik, 2006, oral examination: 06.10.2006. BibTeX

    81. M. Blaho:
    "Experimental Characterisation of Smart Power Technology Devices Stressed by High Energy Pulses";
    Reviewer: E. Gornik, E. Langer; Institut für Festkörperelektronik, 2005, oral examination: 03.10.2005. BibTeX

    80. H. Ceric:
    "Numerical Techniques in Modern TCAD";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2005, oral examination: 29.04.2005 doi:10.34726/hss.2005.3221. BibTeX

    79. S. Wagner:
    "Small-Signal Device and Circuit Simulation";
    Reviewer: T. Grasser, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2005, oral examination: 22.04.2005 doi:10.34726/hss.2005.3091. BibTeX

    78. J.M. Park:
    "Novel Power Devices for Smart Power Applications";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2004, oral examination: 07.12.2004 doi:10.34726/hss.2004.1715. BibTeX

    77. R. Kosik:
    "Numerical Challenges on the Road to NanoTCAD";
    Reviewer: T. Grasser, Ch. Schmeiser; Institut für Mikroelektronik, 2004, oral examination: 09.09.2004 doi:10.34726/hss.2004.1116. BibTeX

    76. T. Ayalew:
    "SiC Semiconductor Devices Technology, Modeling and Simulation";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2004, oral examination: 26.02.2004 doi:10.34726/hss.2004.04281063. BibTeX

    75. J. Cervenka:
    "Three-Dimensional Mesh Generation for Device and Process Simulation";
    Reviewer: T. Grasser, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2004, oral examination: 20.10.2004 doi:10.34726/hss.2004.1458. BibTeX

    74. S. Smirnov:
    "Physical Modeling of Electron Transport in Strained Silicon and Silicon-Germanium";
    Reviewer: H. Kosina, K. Unterrainer; Institut für Mikroelektronik, 2003, oral examination: 17.12.2003. BibTeX

    73. A. Gehring:
    "Simulation of Tunneling in Semiconductor Devices";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2003, oral examination: 05.12.2003. BibTeX

    72. R. Rodriguez-Torres:
    "Three-Dimensional Simulation of Split-Drain MAGFETs";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2003, oral examination: 13.05.2003 doi:10.34726/hss.2003.03817587. BibTeX

    71. M. Gritsch:
    "Numerical Modeling of Silicon-on-Insulator MOSFETs";
    Reviewer: H. Kosina, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 20.12.2002 doi:10.34726/hss.2002.03697025. BibTeX

    70. C. Harlander:
    "Numerische Berechnung von Induktivitäten in dreidimensionalen Verdrahtungsstrukturen";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 12.12.2002 doi:10.34726/hss.2002.03696933. BibTeX

    69. T. Binder:
    "Rigorous Integration of Semiconductor Process and Device Simulators";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 30.12.2002. BibTeX

    68. C. Heitzinger:
    "Simulation and Inverse Modeling of Semiconductor Manufacturing Processes";
    Reviewer: S. Selberherr, R. Chabicovsky; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 20.12.2002 doi:10.34726/hss.2002.03696962. BibTeX

    67. R. Klima:
    "Three-Dimensional Device Simulation with Minimos-NT";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 19.12.2002. BibTeX

    66. R. Quay:
    "Analysis and Simulation of High Electron Mobility Transistors";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2001, oral examination: 18.09.2001 doi:10.34726/hss.2001.03341873. BibTeX

    65. R. Sabelka:
    "Dreidimensionale Finite Elemente Simulation von Verdrahtungsstrukturen auf Integrierten Schaltungen";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2001, oral examination: 21.05.2001 doi:10.34726/hss.2001.03227950. BibTeX

    64. K. Dragosits:
    "Modeling and Simulation of Ferroelectric Devices";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Hauser; Institut für Mikroelektronik, 2001, oral examination: 29.01.2001 doi:10.34726/hss.2000.03228781. BibTeX

    63. C. Troger:
    "Modellierung von Quantisierungseffekten in Feldeffekttransistoren";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2001, oral examination: 18.06.2001. BibTeX

    62. J. Lorenz:
    "Diskretisierung und Gittergeneration für die mehrdimensionale Simulation von Implantation und Diffusion";
    Reviewer: H. Ryssel, S. Selberherr; Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg und Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 28.04.2000. BibTeX

    61. W. Pyka:
    "Feature Scale Modeling for Etching and Deposition Processes in Semiconductor Manufacturing";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 11.05.2000. BibTeX

    60. P. Fleischmann:
    "Mesh Generation for Technology CAD in Three Dimensions";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 24.02.2000 doi:10.34726/hss.1999.03012084. BibTeX

    59. R. Mlekus:
    "Object-Oriented Algorithm and Model Management in TCAD Applications";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 13.01.2000. BibTeX

    58. M. Stockinger:
    "Optimization of Ultra-Low-Power CMOS Transistors";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 25.01.2000. BibTeX

    57. V. Palankovski:
    "Simulation of Heterojunction Bipolar Transistors";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 12.12.2000 doi:10.34726/hss.2000.03142613. BibTeX

    56. A. Hössinger:
    "Simulation of Ion Implantation for ULSI Technology";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 11.09.2000. BibTeX

    55. T. Grasser:
    "Mixed-Mode Device Simulation";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 21.05.1999 doi:10.34726/hss.1999.02581881. BibTeX

    54. R.M. Escadas Ramos Martins:
    "On the Design of Very Low Power Integrated Circuits";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 25.02.1999. BibTeX

    53. R. Plasun:
    "Optimization of VLSI Semiconductor Devices";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 21.10.1999. BibTeX

    52. R. Strasser:
    "Rigorous TCAD Investigations on Semiconductor Fabrication Technology";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 23.06.1999. BibTeX

    51. M. Rottinger:
    "Selected Simulations of Semiconductor Structures";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 25.06.1999. BibTeX

    50. M. Knaipp:
    "Modellierung von Temperatureinflüssen in Halbleiterbauelementen";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 21.10.1998. BibTeX

    49. H. Brech:
    "Optimization of GaAs Based High Electron Mobility Transistors by Numerical Simulation";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 03.04.1998. BibTeX

    48. H. Kirchauer:
    "Photolithography Simulation";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 21.04.1998. BibTeX

    47. M. Radi:
    "Three-Dimensional Simulation of Thermal Oxidation";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 02.12.1998. BibTeX

    46. G. Schrom:
    "Ultra-Low-Power CMOS Technology";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 07.07.1998. BibTeX

    45. C. Wasshuber:
    "About Single-Electron Devices and Circuits";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 18.02.1997 doi:10.34726/hss.1997.01758304. BibTeX

    44. E. Leitner:
    "Diffusionsprozesse in dreidimensionalen Strukturen";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 05.02.1998. BibTeX

    43. C. Pichler:
    "Integrated Semiconductor Technology Analysis";
    Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 22.05.1997 doi:10.34726/hss.1997.02035427. BibTeX

    42. C. Köpf:
    "Modellierung des Elektronentransports in Verbindungshalbleiterlegierungen";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 16.12.1997 doi:10.34726/hss.1997.02250732. BibTeX

    41. G. Kaiblinger-Grujin:
    "Physikalische Modellierung und Monte-Carlo-Simulation der Elektronenbeweglichkeit in Silizium";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 13.03.1998. BibTeX

    40. H. Puchner:
    "Advanced Process Modeling for VLSI Technology";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 31.05.1996. BibTeX

    39. G. Rieger:
    "Ein graphischer Editor für Entwurf von Halbleiterbauteilen";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Purgathofer; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 23.05.1996. BibTeX

    38. W. Bohmayr:
    "Simulation der Ionenimplantation in kristalline Siliziumstrukturen";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 28.10.1996. BibTeX

    37. T. Simlinger:
    "Simulation von Heterostruktur-Feldeffekttransistoren";
    Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 30.05.1996. BibTeX

    36. W. Tuppa:
    "VMAKE - A CASE-Oriented Configuration Management Utility";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 28.11.1996. BibTeX

    35. R. Deutschmann:
    "Entwicklung eines physikalischen HFET-Modells: Parameterextraktion und Verifikation";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1995, oral examination: 10.10.1995. BibTeX

    34. M. Hackel:
    "Transport und Injektion von Ladungsträgern in MOS-Strukturen mit der Monte-Carlo Methode";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1995, oral examination: 10.10.1995 doi:10.34726/hss.1995.01384981. BibTeX

    33. N. Khalil:
    "ULSI Characterization with Technology Computer-Aided Design";
    Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1995, oral examination: 31.05.1995. BibTeX

    32. C. Fischer:
    "Bauelementsimulation in einer computergestützten Entwurfsumgebung";
    Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 26.05.1994. BibTeX

    31. R. Bauer:
    "Numerische Berechnung von Kapazitäten in dreidimensionalen Verdrahtungsstrukturen";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 16.11.1994. BibTeX

    30. M. Stiftinger:
    "Simulation und Modellierung von Hochvolt-DMOS-Transistoren";
    Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 06.10.1994. BibTeX

    29. E. Strasser:
    "Simulation von Topographieprozessen in der Halbleiterfertigung";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 17.11.1994. BibTeX

    28. S. Halama:
    "The Viennese Integrated System for Technology CAD Applications";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 27.05.1994. BibTeX

    27. F. Fasching:
    "The Viennese Integrated System for Technology CAD Applications - Data Level Design and Implementation";
    Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 17.11.1994. BibTeX

    26. H. Brand:
    "Thermoelektrizität und Hydrodynamik";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 26.05.1994. BibTeX

    25. P. Habas:
    "Analysis of Physical Effects in Small Silicon MOS Devices";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1993, oral examination: 17.11.1993. BibTeX

    24. H. Pimingstorfer:
    "Integration und Anwendung von Simulatoren in der CMOS-Entwicklung";
    Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1993, oral examination: 30.11.1993. BibTeX

    23. H. Stippel:
    "Simulation der Ionen-Implantation";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1993, oral examination: 17.11.1993. BibTeX

    22. K. Wimmer:
    "Two-Dimensional Nonplanar Process Simulation";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1993, oral examination: 18.06.1993. BibTeX

    21. H. Kosina:
    "Simulation des Ladungstransportes in elektronischen Bauelementen mit Hilfe der Monte-Carlo-Methode";
    Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1992, oral examination: 09.06.1992 doi:10.34726/hss.1992.00474269. BibTeX

    20. O. Heinreichsberger:
    "Transiente Simulation von Silizium MOSFETs";
    Reviewer: S. Selberherr, R. Weiss; Institut für Mikroelektronik, 1992, oral examination: 02.06.1992. BibTeX

    19. P. Lindorfer:
    "Numerische Simulation von Galliumarsenid MESFETs";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1991, oral examination: 15.03.1991. BibTeX

    18. P. Dickinger:
    "Hochvolt DMOS Transistoren: Analyse und Optimierung";
    Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1990, oral examination: 15.06.1990. BibTeX

    17. K. Wagner:
    "Simulation von Volumenwelleneffekten in SAW-Bauelementen";
    Reviewer: F. Seifert, S. Selberherr; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1990, oral examination: 20.03.1990. BibTeX

    16. J. Demel:
    "JANAP - Ein Programm zur Simulation von elektrischen Netzwerken";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Mikroelektronik, 1989, oral examination: 16.11.1989. BibTeX

    15. G. Nanz:
    "Numerische Methoden in der zweidimensionalen Halbleiterbauelementsimulation";
    Reviewer: S. Selberherr, R. Weiss; Institut für Mikroelektronik, 1989, oral examination: 23.11.1989. BibTeX

    14. W. Kausel:
    "Zweidimensionale transiente Simulation von Halbleiterbauelementen";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Mikroelektronik, 1989, oral examination: 02.03.1989. BibTeX

    13. M. Thurner:
    "Dreidimensionale Modellierung von MOS-Transistoren";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Mikroelektronik, 1988, oral examination: 25.10.1988. BibTeX

    12. G. Hobler:
    "Simulation der Ionenimplantation in ein-, zwei- und dreidimensionalen Strukturen";
    Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1988, oral examination: 23.11.1988. BibTeX

    11. A. Seidl:
    "Zweidimensionale Simulation der lokalen Oxidation von Silizium";
    Reviewer: H. Ryssel, S. Selberherr; Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg und Institut für Mikroelektronik, 1988, oral examination: 23.02.1989. BibTeX

    10. A.R. Baghai-Wadji:
    "Berechnung der Quellenverteilung zur Anregung von akustischen Wellen in Oberflächenwellenfiltern";
    Reviewer: F. Seifert, S. Selberherr; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1987, oral examination: 29.10.1987. BibTeX

    9. W. Ochsenreiter:
    "Fehlertolerante Uhrensynchronisation in verteilten Realzeitsystemen";
    Reviewer: H. Kopetz, S. Selberherr; TU Wien, 1987, oral examination: 27.05.1987. BibTeX

    8. O. Männer:
    "Knotenvariablen-Analyse von Oberflächenwellenfiltern";
    Reviewer: F. Seifert, S. Selberherr; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1987, oral examination: 29.09.1987. BibTeX

    7. E. Langer:
    "Anregung und Ausbreitung elektroakustischer Wellen in piezoelektrischen Kristallen";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1986, oral examination: 28.02.1986. BibTeX

    6. W. Jüngling:
    "Entwicklung und Auswertung verbesserter Modelle für die Prozeß- und Bauelementesimulation";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1986, oral examination: 05.06.1986. BibTeX

    5. F. Straker:
    "Numerische Berechnung von Kapazitäten in hochintegrierten Schaltungen";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1985, oral examination: 30.10.1985. BibTeX

    4. P. Pichler:
    "Numerische Simulation kritischer Prozeßschritte in der Halbleitertechnik";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1985, oral examination: 30.10.1985. BibTeX

    3. A. Franz:
    "Numerische Simulation von Leistungsfeldeffekthalbleiterbauelementen";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1984, oral examination: 21.11.1984. BibTeX

    2. G. Franz:
    "Numerische Simulation von bipolaren Leistungshalbleiterbauelementen";
    Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1984, oral examination: 21.11.1984. BibTeX

    1. S. Selberherr:
    "Zweidimensionale Modellierung von MOS-Transistoren";
    Reviewer: H. Pötzl, F. Paschke; Institut für Physikalische Elektronik, 1981, oral examination: 05.03.1981 doi:10.34726/hss.1981.00317827. BibTeX

    Institute for Microelectronics
    Head: Univ. Prof. Dipl.-Ing. Dr. techn. Tibor Grasser
    Deputy Head: O. Univ. Prof. Dipl.-Ing. Dr. techn. Dr.h.c. Siegfried Selberherr
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