D I S S E R T A T I O N

Reliability Issues in High-Voltage Semiconductor Devices

ausgeführt zum Zwecke der Erlangung des akademischen Grades
eines Doktors der technischen Wissenschaften

eingereicht an der Technischen Universität Wien
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
von

OLIVER TRIEBL


Friedrich-Schiller-Straße 21
2352 Gumpoldskirchen
Österreich

Matr. Nr. 9625162
geboren am 5. August 1977 in Wien

Wien, im Oktober 2012