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Der Monte Carlo Simulator MCIMPL wurde am Institut für Mikroelektronik der
Technischen Universität Wien entwickelt. Grundlegende Arbeiten zur
Modellierung der Ionenimplantation wurden von Dr. Gerhard Hobler
[Hob88a, Hob89, Hob91c] durchgeführt, wohingegen bei Dr. Hannes
Stippel die automatische Adaption von Histogrammboxen [Sti92] und die
effiziente Lösung des Point-Location Problemes in Vordergrund stand
[Sti93a, Sti94]. Das Programm ist ein Bestandteil des TCAD\
Softwarepaketes VISTA [Sel91, Hal93, Hal95]. Als Datenaustauschformat
wird PIF verwendet [Fas91].
Unter anderen sind folgende Eigenschaften des Simulators erwähnenswert:
- Ein-, zwei- und dreidimensionale Bauelementestrukturen beliebiger
Komplexität und Zusammensetzung sind verarbeitbar.
- Der Benutzer kann zwischen Modellen für amorphes und kristallines
Silizium wählen.
- Die Orientierung des Ionenstrahls in Bezug auf die Simulationsstruktur
unterliegt keinerlei Einschränkungen.
- Die transiente Schädigung des Kristallgitters durch die Ionen kann
auf Wunsch berücksichtigt werden.
- Die räumliche Ausdehnung von möglichen amorphen Schichten wird bis
zu einer Substrattemperatur von 400 simuliert.
- Die Momente für analytische Verteilungsfunktionen werden auf Wunsch
berechnet und können anschließend in Simulatoren verwendet werden.
- Sämtliche Parameter sind für den Benutzer zugänglich. Somit können
neue experimentelle Erkenntnisse in die Modelle des Simulators einfließen.
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