A.4.7.5 Statistische Analyse

Bei einer statistischen Analyse wird eine Analyse mehrmals durchgeführt und dabei die Bauteilparameter nach den angegebenen Verteilungsfunktionen variiert.

Die statistische Analyse wird bei der DC-Analyse (A.4.7.2)    angefordert und gilt auch für alle weiterführenden Analysen.

Angabe der Verteilungsfunktion: 

• Das steuernde Element bei einer statistischen Analyse ist der Parameter RANDOM (A.4.2.12).   Während einer normalen Analyse hat RANDOM den konstanten Wert . Während der statistischen Analyse jedoch liefert RANDOM in der Aufbereitungsphase der jeweiligen elektrischen Analyse bei jeder Verwendung einen anderen Wert, eine gleichverteilte Zufallszahl aus dem Bereich 0 bis 1 mit dem Mittelwert 0.5.

• Wird der Parameter RANDOM in einem Ausdruck, der den Wert eines Bauelements bestimmt, verwendet, so hat das Bauelement bei jedem einzelnen Fall (case) der statistischen Analyse einen anderen Wert. Die Art der Verteilungsfunktion hängt vom Aussehen des Ausdrucks, in dem RANDOM vorkommt, ab.

• Da die in der Technik am häufigsten auftretende Verteilungsfunktion die Gauß'sche Normalverteilung  ist, sieht JANAP eine Standardfunktion NORMAL (A.4.2.16)  vor, die eine einfache Angabe einer Normalverteilung ermöglicht.

Funktionswerte und Ausdrücke:  

• Während der statistischen Analyse werden alle Ausdrücke und Funktionsaufrufe der Topologie bei jedem Durchlauf der Analyse neu ausgewertet.

• In Ausgabe-Anweisungen   (PRINT, PLOT, A.4.9) wird normalerweise der Nominalwert  angesprochen. Wenn die Schlüsselworte ENVELOPE oder SCATTER angegeben sind, so ist die Gesamtheit aller Werte angesprochen.

• In der HISTO-Anweisung (A.4.9.7)    wird immer die Gesamtheit aller Werte angesprochen.

Ausgabe-Anweisungen:

• Das Zusammenwirken zwischen der statistischen Analyse und den Ausgabe-Anweisungen (A.4.9) wird bei den jeweiligen Anweisungen behandelt.