Bei den immer höher werdenden Packungsdichten von digitalen integrierten Schaltungen in CMOS-Logik zeigt sich ein zunehmendes Problem der Leistungsaufnahme und des damit verbundenen Wärmeabtransports. Diesem Problem muß durch neue Entwurfsstrategien sowohl auf Bauteil- als auch auf Systemebene begegnet werden.
Die Leistungsmerkmale einer bestimmten Technologie werden an einem Inverter untersucht. Für die Beurteilung werden neben den noise margins (den Rauschabständen) die Verzögerungszeit, die Leckzeit (bei dynamischer Logik), sowie die Schaltenergien herangezogen.
Dieses Kapitel beschäftigt sich mit der Ermittlung wesentlicher Kenngrößen, nämlich der Schaltleistung und der Verzögerungszeit, mittels verkoppelter transienter Simulation.
