Die materialabhängige Beweglichkeit der Ladungsträger ist eine der wesentlichsten Größen in der Halbleitersimulation. Sie ist durch Messungen relativ leicht zu ermitteln, bzw. kann sie aus der Monte-Carlo Rechnung bestimmt werden. Die wesentlichen Größen, die Einfluß auf die Beweglichkeit haben, sind Gittertemperatur, Dopadenkonzentration, der Abstand von der Oberfläche, der die Beweglichkeit durch Oberflächenstreuung mindert, sowie der Einfluß der treibenden Kraft auf die Ladungsträger. Von dieser Kraft hängen die Streumechanismen der Ladungsträger mit den Gitteratomen bzw. mit den Trägersystemen ab. Durch die treibende Kraft erhalten die Ladungsträger kinetische Energie, die im hydrodynamischen Modell die Trägertemperatur bestimmt. Die meisten Halbleiter verhalten sich so, daß bei hohen Trägertemperaturen bzw. hohen treibenden Kräften die mittlere Teilchengeschwindigkeit sättigt [60]. Es kann sogar der Effekt auftreten, daß die Teilchengeschwindigkeit bei zunehmender treibender Kraft wieder abnimmt [39]. Diesen Effekt nützen Laufzeitdioden aus, die verwendet werden, um Mikrowellensignale zu erzeugen [11,64].
Die in MINIMOS-NT implementierten Drift-Diffusionsbeweglichkeitsmodelle für Silizium haben die in [19] beschriebene
Form. Beim Übergang vom Drift-Diffusionsmodell zum hydrodynamischen Modell macht man folgenden Ansatz
Nimmt man die Bandkanten, den Dotierungsverlauf und die Feldstärke als homogen an, vernachlässigt man
Rekombination/Generation, so gilt in (2.62) , und man kann (2.62) für Elektronen
anschreiben als
erhält man mit (C.2)
Aus dem Drift-Diffusionsmodell ergibt sich für große Felder die Sättigungsgeschwindigkeit
Gleichung(C.4) wird damit zu
Setzt man das Ergebnis in (C.1) ein, so erhält man
Multipliziert man (C.7) mit und bildet den Grenzwert , so folgt
Löst man (C.8) nach auf und setzt das Ergebnis in (C.1) ein, so erhält man die trägertemperaturabhängige Beweglichkeit, wie sie in MINIMOS-NT implementiert ist