Abbildung 7.7: Entwicklung des Drainstromes und der relativen Norm der
Inkremente während der Monte-Carlo-Poisson-Iteration für
zwei verschiedene
Transistoren bei
.
In der Abbildung 7.7 wird das Konvergenzverhalten der Monte-Carlo-Poisson-Kopplung an Hand der beiden kürzeren Transistoren verdeutlicht. Bei der Iterationszahl null in Abbildung 7.7 (a) und (b) ist der Drainstrom entsprechend der Anfangslösung aufgetragen, die aus einer Drift-Diffusionssimulation gewonnen wird. Bei der Iterationszahl eins werden die erweiterten Halbleiter-Gleichungen das erste mal mit einer von der Gittertemperatur verschiedenen Trägertemperatur und der nichtlokalen Beweglichkeit aus der Monte-Carlo-Rechnung gelöst. Diese erstmalige Berücksichtigung der Monte-Carlo-Drift-Diffusions-Kopplungskoeffizienten führt zu einem signifikanten Anstieg im Drainstrom. Mit zunehmender Iterationszahl nimmt der Drainstrom als Folge der Poisson-Kopplung wieder ab und erreicht einen stationären Wert, der auf Grund des statistischen Charakters der Monte-Carlo-Methode mit geringfügigen Schwankungen behaftet ist.
Im folgenden wird als Abstandsmaß zwischen zwei Lösungsvektoren die relative Norm nach [81] verwendet. Diese relative Norm besitzt den Vorteil, daß sie zusätzlich die Axiome einer Metrik erfüllt. Eine zweidimensionale Verteilung, die man mit der Monte-Carlo-Methode erhält, kann man sich so vorstellen, daß sie sich von der exakten Verteilung, die der Lösung der Boltzmanngleichung entsprechen würde, durch ein örtlich verteiltes Rauschen unterscheidet. Rechnet man etwa ein und dasselbe Problem mit zwei verschiedenen Anfangswerten für den Zufallszahlengenerator, so werden sich zwei verschiedene Lösungen ergeben, die sich ebenfalls um ein Rauschen unterscheiden. Dieses Rauschen geht natürlich mit gegen unendlich strebender Teilchenzahl gegen null, in praktischen Simulationen ist es wegen der endlichen Teilchenzahl immer vorhanden. Dieses Verhalten äußert sich in den folgenden Darstellungen dadurch, daß Fehlernormen, die im Idealfall gegen null gehen würden, nur unter eine bestimmte Schranke fallen und dann im Mittel konstant bleiben.
In Abbildung 7.7 (c) und (d) ist die Entwicklung der relativen Normen der Potential- und der Elektronenkonzentrations-Inkremente dargestellt. Bei beiden Transistoren fällt die relative Norm der Potential-Inkremente unter . Beim -Transistor tritt Konvergenz im Rahmen der erreichbaren Genauigkeit sowohl beim Drainstrom als auch bei den Fehlernormen nach nur 5 Iterationen ein. Beim -Transistor lassen sich nach 5 Iterationen ebenfalls keine systematischen Veränderungen mehr feststellen.
Abbildung 7.8: Entwicklung des Drainstromes und der relativen Norm der
Inkremente während der Monte-Carlo-Poisson-Iteration für einen
-Transistor bei den Gatespannungen und
Zum Vergleich mit den beiden kurzen Transistoren wird der -Transistor untersucht, wobei noch zusätzlich der Einfluß der Gatespannung betrachtet wird. Auf Grund des längeren Kanals kann erwartet werden, daß nur ein geringerer Anteil der Kanalladung nicht durch das Drift-Diffusionsmodell beschreibbar ist und in der Folge weniger stark ausgeprägte Effekte während der Monte-Carlo-Poisson-Iteration auftreten werden.
Diese Erwartung wird durch die Abbildung 7.8 bestätigt. Bei tritt im Drainstrom überhaupt kein Überschwingen auf. Bei dieser geringen Gatespannung wird die bewegliche Ladung im Kanal klein sein. Daher wird die Potentialverteilung hauptsächlich von der Raumladung in den Depletionszonen bestimmt, die aber von der Monte-Carlo-Poisson-Kopplung praktisch nicht beeinflußt wird. Die relative Kleinheit der Kanalladung im Vergleich zur Elektronenladung in Source und Drain bewirkt auch die deutlich geringere Norm der Elektronenkonzentrations-Inkremente in Abbildung 7.8 (c).
Bei einer Gatespannung von , bei der sich ein stärkerer Kanal ausbilden wird, tritt ein geringes Überschwingen im Drainstrom auf (Abbildung 7.8 b). Obwohl der Wert bei der Iterationszahl eins nur geringfügig über dem Stationärwert liegt, sind trotzdem etwa 5 Iterationen erforderlich, um diesen Stationärwert zu erreichen.
Während der Abfall beim Drainstrom zwischen der 1. und 5. Iteration gering ist, ist er in den Normen deutlich ausgeprägt (Abbildung 7.8 d). Es ist zu beobachten, daß die relative Norm der Potential-Inkremente bei beiden Gatespannungen wieder deutlich unter fällt.
Der Stationärwert des Drainstromes liegt für beide Gatespannungen über dem Strom des Drift-Diffusionsmodells (entspricht der Iterationszahl null). Dies hängt damit zusammen, daß das Oberflächenstreumodell des Monte-Carlo-Teiles nur näherungsweise mit der Grenzflächenbeweglichkeit des Drift-Diffusionsmodells abgestimmt ist. Es stellt sich aber die Frage, ob das verwendete Oberflächenstreumodell, das nur einen einzigen einstellbaren Parameter besitzt, über einen größeren Normalfeldstärkebereich hinreichend genau kalibriert werden kann.