Abbildung 4.1: Beispiel fuer eine technologisch
relevante, zweidimensionale Simulation: 25keV-Bor-Implantation mit
einer Dosis von in eine
LDD-Struktur; der Strahl wurde dabei um 7 gegenueber der
[100]-Richtung gekippt.
Abbildung 4.2: Integriert man
die zweidimensionale Dotierstoffkonzentration aus
Abbildung 4.1 im
Simulationsgebiet entlang der x-Achse, so erhält man den
dazugehörigen eindimensionalen Dotierstoffverlauf (hier als
Histogramm dargestellt).
Abbildung 4.1 zeigt ein typisches Anwendungsbeispiel für die Monte Carlo Simulation der Ionenimplantation -- eine Drain-Implantation für einen PMOS Transistor. Abbildung 4.2 zeigt das dazugehörige eindimensionale Bor-Profil, das durch Integration der Dotierstoffkonzentration im Simulationsgebiet entlang der x-Achse entstanden ist. Das Ergebnis ist die Randverteilung bezüglich der y-Koordinate.
Die Anzahl der zu berechnenden Trajektorien hängt natürlich von der jeweiligen Anwendung ab. Möchte man z.B. ein Retrograde well eines BiCMOS Transistors simulieren, so ist das Interesse am Channeling-Tail`` gering. Bei LDD und ,,Source/Drain Implantationen ist man hingegen sehr wohl bemüht, Konzentrationsbereiche, die um drei Größenordnungen kleiner sind als das Maximum, noch mit ausreichender Statistik aufzulösen. Normalerweise findet man bei Dotierstoffkonzentrationen mit einer relativen Fehlerschranke von fünf bis zehn Prozent das Auslangen, denn daraus resultiert ein Fehler von ca. in der Eindringtiefe (siehe Abbildung 4.2).
An Hand von Abbildung 4.2 läßt sich zeigen, daß vor allem das Channeling der Ionen für die im Vergleich zum amorphen Modell erhöhten Rechenzeiten verantwortlich ist:
Aus dem ersten und dritten Punkt folgt, daß
Daraus resultiert unmittelbar, daß
Kommt nun der konventionelle Algorithmus aus Kapitel 3.1 zum Einsatz, so kann das statisitische Rauschen im Channeling-Tail nur verringert werden, indem die Gesamtanzahl der zu berechnenden Ionentrajektorien erheblich erhöht wird. Da aber von diesem Inkrement wieder nur einige Prozent der Ionen in tiefere Regionen vorstoßen, wird fast die gesamte zusätzliche Rechenzeit dafür verschwendet, die ohnehin schon gute Statistik im Bereich von zu verbessern.
In diesem Kapitel wird daher ein neuer Algorithmus vorgestellt, dessen Geschwindigkeitsvorteile gegenüber dem konventionellen auf zwei Tatsachen beruhen [Boh95a, Boh95b, Boh95d, Boh95e]:
Dieses Verfahren wurde vor allem durch die Arbeit von Yang [Yan94] inspiriert, dessen Rare event approach im UT-MARLOWE Programm [Kle92] dazu geeignet ist, eindimensionale Monte Carlo Simulationen zu beschleunigen. Dieser Ansatz kann aber nicht für mehrdimensionale Gebiete erweitert werden und benötigt darüberhinaus anwendungsspezifische Vorgaben des Programmbenutzers.
Es soll aber an dieser Stelle nicht unerwähnt bleiben, daß solche oder ähnliche Verfahren bereits früher in Zusammenhang mit Monte Carlo Methoden [Bus66] (Killing and splitting), Bauelementesimulatoren [Phi77] oder Transmissionsuntersuchungen [Jak94, Jak95] publiziert wurden.
Der Trajectory-Split Algorithmus stellt jedoch eine Originalarbeit auf dem Gebiet der Monte Carlo Simulation der Ionenimplantation dar und hat sich auf Grund folgender Eigenschaften hervorragend in der Praxis bewährt: