Um die Rolle von Elektronen und Löchern zu trennen,
wurde ein CP-Experiment simuliert, in dem die
Flankensteilheiten 
der Frontgate-Spannung getrennt
im Bereich 
bei
Konstanthaltung der komplementären
Flankensteilheiten 
=
variiert wurden.
Als zusätzlicher Parameter tritt die Spannung 
am Backgate (
) in Erscheinung.
Die Ergebnisse sind der Abbildung 4.11
zu entnehmen (siehe auch die
korrespondierende Abbildung 11a in [76]).
Die Kanallänge von 
=
ist
groß genug, um eine deutlich meßbare geometrische CP-Komponente
zu erzeugen. Während die Kurven für variable
steigende Flanke 
bei akkumuliertem Backinterface
bzw. für fallende Flanke 
bei invertiertem
Backinterface streng linear verlaufen, steigen
die beiden verbleibenden Kurven bei kurzen
Pulsflanken scharf an.
Der Grund für die unterschiedlichen Steigungen
der beiden linearen Kurven liegt,
wie im Abschnitt 4.3.3 ausführlich
diskutiert, in der als linear angenommenen Verteilung der
Frontinterface-Störstellen im verbotenen Band
(siehe Abbildung 4.6 im Abschnitt 4.3).
Abbildung: 
in Abhängigkeit der Flankensteilheit
bei = und in Abhängigkeit
von bei =, beide für
invertiertes (=
) und
akkumuliertes (=
) Backinterface.
Die dimensionale Komponente erscheint deutlich
bei invertiertem Backinterface und variabler steigender
Flanke (Mechanismus A) bzw. bei
akkumuliertem Backinterface und variabler fallender
Flanke (Mechanismus B).