D I S S E R T A T I O N
Electromigration in
Interconnect Structures
ausgeführt zum Zwecke der Erlangung des akademischen Grades
eines Doktors der technischen Wissenschaften
unter der Leitung von
O.Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Dr.h.c. Siegfried SELBERHERR
Institut für Mikroelektronik
und der Assistenz von
Associate Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Hajdin CERIC
Christian Doppler Laboratory for Reliability Issues in Microelectronics at the
Institut für Mikroelektronik
eingereicht an der Technischen Universität Wien
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
von
Dipl.-Ing. Wolfhard H. ZISSER
0126308 / E 066 439
Jahngasse 61, 2230 Gänserndorf