D I S S E R T A T I O N
Mixed Negative Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
ausgeführt zum Zwecke der Erlangung des akademischen Grades
eines Doktors der technischen Wissenschaften
unter der Leitung von
Ao.Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Tibor GRASSER
Institut für Mikroelektronik
eingereicht an der Technischen Universität Wien
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
von
Dipl.-Ing. Bianka ULLMANN
0425601 / E 786 710
Wien, am 28. Mai 2018