D I S S E R T A T I O N
Experimental Characterization of Bias Temperature Instabilities in Modern Transistor Technologies
ausgeführt zum Zwecke der Erlangung des akademischen Grades
eines Doktors der technischen Wissenschaften
eingereicht an der Technischen Universität Wien
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
von
Michael Waltl
Athalerstrasse 24
5122 Ach, Österreich
Matrikelnummer 0425825
geboren am 4. März 1984 in Oberndorf bei Salzburg
Wien, im September 2016